DJM-300系列太陽能硅片檢測顯微鏡，選用優質的光學元件，配有超大視場目鏡、落射照明器、平場長工作距離明暗場物鏡，是針對半導體晶圓檢測、太陽能硅片制造業、電子信息產業、治金工業開發的，作為高級工業金相顯微鏡使用。
DJM-300系列太陽能硅片檢測顯微鏡，選用優質的光學元件，配有超大視場目鏡、落射照明器、平場長工作距離明暗場物鏡，是針對半導體晶圓檢測、太陽能硅片制造業、電子信息產業、治金工業開發的，作為高級工業金相顯微鏡使用。可進行明暗場觀察、落射偏光、廣泛用于工廠、研究機構、高等院校對太陽能電池硅片、半導體晶圓檢測、電路基板、FPD、精密模具的檢測分析。系統配置了優質無限遠光路系統、三目透反射顯微鏡DJM-300C、500萬高清晰數字攝像頭及圖像測量管理軟件，可對太陽能電池板圖像進行檢查、拍照、測量、編輯和保存輸出等多種操作。是太陽能電池硅片檢查的理想儀器。 
太陽能硅片檢測顯微鏡DJM-300C
一、DJM-300C太陽能硅片檢測顯微鏡的特點和用途:
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DJM-300系列太陽能硅片檢測顯微鏡，選用優質的光學元件，配有超大視場目鏡、落射照明器、平場長工作距離明暗場物鏡，是針對半導體晶圓檢測、太陽能硅片制造業、電子信息產業、治金工業開發的，作為高級工業金相顯微鏡使用。可進行明暗場觀察、落射偏光、廣泛用于工廠、研究機構、高等院校對太陽能電池硅片、半導體晶圓檢測、電路基板、FPD、精密模具的檢測分析。系統配置了優質無限遠光路系統、三目透反射顯微鏡DJM-300C、500萬高清晰數字攝像頭及圖像測量管理軟件，可對太陽能電池板圖像進行檢查、拍照、測量、編輯和保存輸出等多種操作。是太陽能電池硅片檢查的理想儀器。
1、采用了先進的光學顯微鏡與現代成像分析融為一體的圖像測量技術。 2、可對太陽能電池硅片進行檢查、拍照、測量、保存、輸出等多種操作。 3、系統配置了優質無限遠光路系統、大尺寸工作臺的三目透反射顯微鏡 4、可以測量太陽能電池片裂紋長度，崩邊長度角度，印刷位移角度偏差 5、可以測量主、副柵線，背電極的寬度、均勻度、柵線間距離及副柵線 到電池邊的距離，柵線、斷線長度，斷線缺損和變色的面積 6、可以檢查太陽能電池表面顏色色差、絨面色斑亮斑，裂紋，崩邊，掉 角缺口，印刷偏移主副柵線、背電極的斷線，缺損，扭曲，變色等現象。 7、可對雜質、殘留物成分進行分析。雜質包括: 顆粒、有機雜質、無機雜 質、金屬離子、硅粉粉塵等 |
二、太陽能硅片檢測顯微鏡DJM-300C的技術參數:
型號
技術參數
目鏡
WF10X(Φ22mm)
物鏡
無限遠長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)PL 5X/0.12 工作距離:26.3mm
無限遠長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)PL L10X/0.25 工作距離:20.2mm
無限遠長距平場消色差物鏡(無蓋玻片) PL L40X/0.60（彈簧） 工作距離：3.98 mm
無限遠長距平場消色差物鏡(無蓋玻片) PL L60X/0.70（彈簧） 工作距離：3.18 mm
無限遠長距平場消色差物鏡(無蓋玻片) PL L100X/0.85（彈簧） 工作距離：0.40 mm
目鏡筒
鉸鏈式三目鏡,傾斜30?,內置檢偏振片,可進行切換 ；瞳距調節范圍 55-75mm,屈光度±5可調。
落射照明系統
6V 30W鹵素燈,亮度可調
落射照明器帶 (黃,藍,綠)濾色片和磨砂玻璃
視場光欄和孔徑光欄大小可調節，可插入式起偏振片，可進行偏光觀察和攝影
透射照明系統
阿貝聚光鏡 NA.1.25 可上下升降 。藍濾色片和磨砂玻璃
集光器，鹵素燈照明適用(內置視場光欄) ，6V 30W 鹵素燈,亮度可調
調焦機構
粗微動同軸調焦, 微動格值:2μm,帶鎖緊和限位裝置
轉換器
五孔(內向式滾珠內定位)
載物臺
雙層機械移動式(尺寸:210mmX140mm,移動范圍:75mmX50mm)
攝像系統
CK-500
500萬像素數字成像系統，1X攝影接口，標準C接口，最高分辨率2592X1944 光學尺寸1/2" 信噪比>42dB動態范圍60dB ，采用5V供電，功耗小，連接簡單：USB2.0 圖像質量好,色彩還原性好 ,圖像穩定，所有攝像機均經過長時間測試 ,體積小，安裝方便 。
二維測量軟件功能：
1、可進行圖像尺寸、亮度、增益、曝光、RGB顏色等多種處理方法。
2、當前圖像放大、縮小、剪切、背景等設置。
3、圖像拼接功能，
4、EDF景深擴展。
5、對圖像中的點、線、圓、圓弧、角度、矩形及任何圖形幾何參數的測量。測量工具使用方便直觀。是顯微圖像測量與分析的有效工具。
三、系統的組成 ：
1、太陽能硅片檢測顯微鏡DJM-300 2、電腦適配鏡 3、彩色數字攝像機CK-500 4、計算機(選購)
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